器件引脚共面性检测仪通过线激光对芯片有焊锡球及的表面，或者IC上的引脚面进行扫描，采集出三维点集数据，并由软件处理生成工件的3D图形，通过软件算法提取3D图中每个焊锡球的高点或者低点，再用所有高点或者低点生成一个平面，并计算出平面度值即为焊锡球或者引脚共面性。设备采用固定龙门式XYZ三轴运动结构，内部主体框架为大理石，可以保证稳定的力学结构。托盘和被测工件可放在工作台玻璃上，前后运动至测量区域，线扫激光头和视觉物镜组合体可以沿着左右运动扫描测量，并可以上下调焦以便适应不同高度面的测量。

器件引脚共面性检测仪广泛应用于晶元、芯片（DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、LGA、PGA）等共面性检测，机械制造、电子、汽车、五金、塑料、模具等行业，可以对工件尺寸、形状和位置公差进行精密检测，从而完成自动拾取、自动分选、零件检测、外形测量、过程控制等任务。

北京品智创思精密仪器有限公司(以下简称品智创思)，始终专注于精密影像测量领域的影像分析及测量软件的设计与研发。品智创思公司从事表面科学、分析仪器、计量检测设备及实验室仪器系统集成商;致力于为工业制造和科研领域用户提供显微分析，图像分析，缺陷识别和检验, 无损探查, 品质管理, 计量，过程控制等专业检测设备，依托强有力的技术资源及完善专业的售后服务与维修体系，向用户提供专业成熟细致的服务及全面地解决方案。    

更多：器件引脚共面性检测仪

http://www.bjpzcs.com/Products-38800969.html

https://www.chem17.com/st393400/product_38800969.html